【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，由中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院等單位起草，TC78(全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量 第1部分: 通用條件和定義》征求意見(jiàn)稿已編制完成，現(xiàn)公開(kāi)征求意見(jiàn)。
為規(guī)范集成電路電磁發(fā)射測(cè)量，以及為集成電路制造商和檢測(cè)機(jī)構(gòu)提供不同的電磁發(fā)射測(cè)量方法，GB/T XXXXX規(guī)定了集成電路電磁發(fā)射測(cè)量的通用條件、定義和不同測(cè)量方法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求，擬由9個(gè)部分構(gòu)成。
——第1部分：通用條件和定義，目的在于規(guī)定集成電路電磁發(fā)射測(cè)量的通用條件和定義。
——第1-1部分：通用條件和定義 近場(chǎng)掃描數(shù)據(jù)交換格式，目的在于規(guī)定近場(chǎng)掃描數(shù)據(jù)交換格式。
——第2部分：輻射發(fā)射測(cè)量 TEM小室和寬帶TEM小室法，目的在于規(guī)定TEM小室和寬帶TEM小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
——第3部分：輻射發(fā)射測(cè)量 表面掃描法，目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
——第4部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 1Ω/150Ω直接耦合法，目的在于規(guī)定1Ω/150Ω直接耦合法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
——第4-1部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 1Ω/150Ω直接耦合法應(yīng)用指南，目的在于給出1Ω/150Ω直接耦合法應(yīng)用指導(dǎo)。
——第5部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 工作臺(tái)法拉第籠法，目的在于規(guī)定工作臺(tái)法拉第籠法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
——第6部分：傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量 磁場(chǎng)探頭法，目的在于規(guī)定磁場(chǎng)探頭法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
——第8部分：輻射發(fā)射測(cè)量 IC帶狀線法，目的在于規(guī)定IC帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求。
本文件是GB/T XXXXX《集成電路 電磁發(fā)射測(cè)量》的第1部分。
GB/T XXXXX的本文件提供了集成電路的傳導(dǎo)和輻射電磁發(fā)射測(cè)量的通用信息和定義，同時(shí)也給出了試驗(yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備和配置、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容的描述。附錄A中給出了試驗(yàn)方法的對(duì)照表，以幫助選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量方法。
本文件的目的是描述通用條件，以建立一個(gè)統(tǒng)一的測(cè)試環(huán)境，來(lái)定量地測(cè)量來(lái)自集成電路(IC)的射頻(RF)騷擾。本文件描述了影響試驗(yàn)結(jié)果的關(guān)鍵參數(shù)。與標(biāo)準(zhǔn)的偏離應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中明確地注明。測(cè)量的結(jié)果可以用于產(chǎn)品比較或其他用途。
通過(guò)對(duì)受控條件下集成電路產(chǎn)生的輻射射頻騷擾或傳導(dǎo)射頻發(fā)射的電壓和電流的測(cè)量，可以獲得集成電路應(yīng)用過(guò)程中可能產(chǎn)生的射頻騷擾信息。
GB/T XXXXX的每個(gè)部分規(guī)定了所適用的頻率范圍。
試驗(yàn)環(huán)境條件：
1.環(huán)境溫度
為了試驗(yàn)的可重復(fù)性，試驗(yàn)過(guò)程中環(huán)境溫度應(yīng)保持在23°C±5°C范圍內(nèi)。IC電磁發(fā)射可能隨溫度而不同。
2.環(huán)境RF場(chǎng)強(qiáng)
環(huán)境RF噪聲電平應(yīng)低于被測(cè)的最低發(fā)射電平至少6dB，并應(yīng)在對(duì)IC測(cè)量前進(jìn)行驗(yàn)證。DUT應(yīng)在不上電的條件下(例如斷開(kāi)電源電壓)安裝在試驗(yàn)布置中用于測(cè)試。應(yīng)進(jìn)行掃描測(cè)量殘留噪聲。環(huán)境RF噪聲的描述應(yīng)作為試驗(yàn)報(bào)告的一部分。
3.其他環(huán)境條件
所有影響試驗(yàn)結(jié)果的其他環(huán)境條件都應(yīng)在試驗(yàn)報(bào)告中說(shuō)明。
4.IC 時(shí)間穩(wěn)定性
IC的功能表現(xiàn)應(yīng)是長(zhǎng)期穩(wěn)定的，使得間隔一段時(shí)間的兩次測(cè)量，在測(cè)量技術(shù)的預(yù)期變化范圍內(nèi)，能得到相同的結(jié)果。
RF 測(cè)量?jī)x器：
1.概述
可以使用測(cè)量接收機(jī)或頻譜分析儀(見(jiàn)表1和表2的默認(rèn)設(shè)置)。測(cè)量接收機(jī)應(yīng)滿足CISPR 16-1-1規(guī)定的帶寬要求。
2.測(cè)量接收機(jī)
測(cè)量接收機(jī)頻段和分辨率帶寬(RBW)的默認(rèn)設(shè)置見(jiàn)表1。
3.頻譜分析儀
頻譜分析儀頻段和分辨率帶寬(RBW)的默認(rèn)設(shè)置見(jiàn)表2。
4.用于窄帶發(fā)射的 RBW
當(dāng)RF發(fā)射為窄帶信號(hào)，測(cè)量技術(shù)需要更低的本底噪聲以從環(huán)境RF噪聲中分辨出被測(cè)信號(hào)時(shí)，可以減小RBW。
5.發(fā)射類(lèi)型、檢波器類(lèi)型和掃描速度
確定發(fā)射是窄帶為主還是寬帶為主，可以通過(guò)默認(rèn)帶寬和下一個(gè)更窄的帶寬(即帶寬減小1/3)來(lái)測(cè)量。當(dāng)帶寬減小1/3時(shí)，如果頻譜的峰值測(cè)量電平減小5dB或更多，則發(fā)射可以看作寬帶為主。
同步時(shí)鐘工作的數(shù)字IC就是一種窄帶發(fā)射源。該類(lèi)IC通常產(chǎn)生以時(shí)鐘諧波和分頻為主的連續(xù)發(fā)射頻譜。因此，所選的檢波器不會(huì)影響指示器的讀數(shù)。峰值檢波器應(yīng)被用于窄帶源測(cè)量。
6.視頻帶寬
當(dāng)使用頻譜分析儀用于測(cè)量時(shí)，視頻帶寬(VBW)應(yīng)至少是RBW的三倍。
7.RF 測(cè)量?jī)x器校準(zhǔn)的驗(yàn)證
如果要得到確定的電平值，應(yīng)通過(guò)與一個(gè)獨(dú)立已校準(zhǔn)的儀器進(jìn)行對(duì)比來(lái)驗(yàn)證RF測(cè)量?jī)x器的校準(zhǔn)，該校準(zhǔn)儀器應(yīng)追溯到一個(gè)公認(rèn)的校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)。
8.頻率范圍
推薦的頻率范圍是150kHz～1GHz，但如果特定的試驗(yàn)程序支持?jǐn)U展的頻率范圍，則推薦的頻率范圍可以進(jìn)行擴(kuò)展。根據(jù)功能，如果IC產(chǎn)生的發(fā)射僅在一段較小的頻率范圍內(nèi)時(shí)，測(cè)量的頻率范圍也可以減小。
GB/T XXXXX的每個(gè)部分規(guī)定了所適用的頻率范圍。
9.前置放大器或衰減器
如有必要，可以使用內(nèi)部或外部的前置放大器或衰減器。前置放大器或衰減器的噪聲系數(shù)應(yīng)小于10dB。前置放大器校準(zhǔn)的最小分辨率是每10倍頻程10個(gè)點(diǎn)。
10.系統(tǒng)增益
應(yīng)驗(yàn)證參考點(diǎn)和RF測(cè)量?jī)x器輸入端之間的增益(或衰減)，準(zhǔn)確度在±0.5dB范圍內(nèi)。
11.其他部件
那些不在參考點(diǎn)和RF測(cè)量?jī)x器輸入端之間的測(cè)量路徑上的電纜、連接器和終端負(fù)載，也可能影響測(cè)量結(jié)果。因此，應(yīng)在被測(cè)頻率范圍內(nèi)，對(duì)它們的特征參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證。
試驗(yàn)布置：
應(yīng)根據(jù)試驗(yàn)大綱進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)大綱的要求應(yīng)包括在試驗(yàn)報(bào)告中。試驗(yàn)報(bào)告還應(yīng)包括：
a) 應(yīng)用電路圖(電源去耦、總線負(fù)載、外圍IC等)；
b) 應(yīng)用IC的PCB的描述(版圖設(shè)計(jì))；
c) IC的實(shí)際工作條件(電源電壓、輸出信號(hào)等)；
d) 使IC運(yùn)行的軟件類(lèi)型的描述(適用時(shí))。
試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)包含所有的變化。與輔助設(shè)備的連接不應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果。
其他的特殊要求在特定的試驗(yàn)程序中描述。
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