一、關(guān)于（數(shù)字）集成電路功能測(cè)試
a．“該測(cè)試儀能提供集成塊在板（線）測(cè)量和離板（線）測(cè)試。離線測(cè)試功能不是主流功能，因?yàn)橥ㄓ玫募呻娐窚y(cè)試儀就是離線對(duì)集成塊進(jìn)行測(cè)量。”
改進(jìn)： 現(xiàn)在的聰能測(cè)試儀，能夠在器件離板（線）的條件下，測(cè)試數(shù)字集成塊的主要直流參數(shù)是否達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)，賦予了離板（線）測(cè)試新的內(nèi)容，所以也成為了主流功能之一。
維修實(shí)踐表明，確實(shí)存在著由于器件參數(shù)下降所導(dǎo)致的電路板故障。比如器件輸入漏流超標(biāo)、驅(qū)動(dòng)能力減弱等等。電路板的非確定性故障可能與此相關(guān)——器件參數(shù)隨著使用年限逐漸下降-->下降到正常工作所要求的臨界點(diǎn)附近時(shí)開始出現(xiàn)偶發(fā)性故障-->參數(shù)持續(xù)下降，導(dǎo)致故障出現(xiàn)的時(shí)間間隔越來越短-->下降到低于臨界點(diǎn)后，雖然器件的電路功能仍然存在，但電路板不能正常工作。
器件電路功能存在而參數(shù)不達(dá)標(biāo)叫做參數(shù)型故障。用以前的在線測(cè)試儀和維修人員常用的通用的（數(shù)字）集成電路測(cè)試儀檢測(cè)不出這類故障來，所以深為維修工程師所頭痛。
為了解決此類問題，新近推出的聰能HN3000系列測(cè)試儀上，增加了對(duì)數(shù)字邏輯器件的主要參數(shù)——輸入高、低漏流和輸出高、低驅(qū)動(dòng)電流的測(cè)試。用戶可以按照器件手冊(cè)中的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，設(shè)置測(cè)試條件和測(cè)試要求，測(cè)試儀將會(huì)自動(dòng)檢測(cè)這些參數(shù)是否達(dá)標(biāo)。比如說，手冊(cè)給出某器件的驅(qū)動(dòng)低電流zui小10mA，這意味著該器件輸出為低時(shí)，向它的輸出灌入10mA的電流，輸出低電平不應(yīng)抬高到手冊(cè)給出的限定值。利用聰能HN3000上的參數(shù)測(cè)試功能，這個(gè)測(cè)試過程是*自動(dòng)完成的。
參數(shù)測(cè)試是定量測(cè)試，尤其對(duì)于測(cè)試儀的硬件精度，有著更高的要求。此項(xiàng)功能的開發(fā)成功，發(fā)展了聰能在線維修測(cè)試儀的硬、軟件技術(shù)，擴(kuò)大了測(cè)試范圍，把聰能測(cè)試儀發(fā)展到了一個(gè)新的階段。
b．“有的電路板涂有絕緣漆，測(cè)試前首先要刮漆處理。”
改進(jìn)：
刮的方式不可取?？蛇x購(gòu)相應(yīng)溶劑除漆。
c．“接觸不良造成的誤判是我使用中zui頭疼的問題”
改進(jìn)：
現(xiàn)在的測(cè)試儀能夠自動(dòng)檢測(cè)是否接觸不良，并給出哪一個(gè)管腳接觸不良的提示。一般不會(huì)誤判。
d．“在進(jìn)行功能測(cè)試時(shí)，如果測(cè)試儀說被測(cè)芯片是好的，正確率有90%，如果說是壞的，準(zhǔn)確率30%還不到”。
改進(jìn)：
1．測(cè)試是好的，上機(jī)不能使用的主要原因是，以前的測(cè)試儀不能發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)下降、器件電路功能仍然存在的故障。這就是為什么我們花大力氣，在聰能測(cè)試儀上開發(fā)主要直流參數(shù)測(cè)試的原因。請(qǐng)參見a。
2．測(cè)試是壞的，然而器件功能完好的主要原因，該文中給出的解釋基本正確。“在進(jìn)行（在線）功能測(cè)試時(shí)，儀器要對(duì)被測(cè)芯片同其它電路進(jìn)行隔離處理，要想把所有電路結(jié)構(gòu)都做到有效隔離也不是好辦的事。”
后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)確實(shí)具有一定的局限性——存在有它無法隔離的電路結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致好器件測(cè)成壞器件，所以會(huì)“儀器說是壞片，換上一個(gè)已知的好片，再測(cè)量時(shí)儀器仍說是壞片。”解決這種問題的辦法是，加強(qiáng)測(cè)試儀對(duì)被測(cè)器件的工作環(huán)境的識(shí)別能力，把后驅(qū)動(dòng)無法隔離的電路結(jié)構(gòu)以某種形式提示給用戶，從而避免誤判。從實(shí)現(xiàn)的技術(shù)難度和應(yīng)用效果來說，這種識(shí)別能力的高低，是區(qū)分測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)劣、檔次的重要標(biāo)志之一。
在發(fā)布的聰能測(cè)試儀軟件版本上，被測(cè)器件工作環(huán)境信息分4種提示在在線測(cè)試狀態(tài)圖上：
a.管腳電阻
在開始測(cè)試前，聰能測(cè)試儀自動(dòng)提取被測(cè)器件所有管腳對(duì)地的正向和反向電阻值，提示到在線測(cè)試狀態(tài)圖上。經(jīng)常使用后就會(huì)發(fā)現(xiàn)，在正常情況下，按不同類型的器件管腳，其合理電阻值應(yīng)在某一個(gè)范圍內(nèi)。
同時(shí)提取正、反向電阻的好處是，半導(dǎo)體器件管腳的正、反向電阻值通常不一樣,可以分別觀察其變化。
b.管腳電平
在開始測(cè)試前，聰能測(cè)試儀自動(dòng)提取被測(cè)器件所有管腳上的電平值，提示到在線測(cè)試狀態(tài)圖上。不同器件的管腳電平應(yīng)該處于一個(gè)合理區(qū)間。比如74系列器件，它的管腳電平應(yīng)在高于0V，低于5V之間。超過該區(qū)間意味著電路板上有其它故障。
c.管腳狀態(tài)
聰能測(cè)試儀能夠識(shí)別十余種管腳狀態(tài)（技術(shù)水平差的測(cè)試儀僅能識(shí)別4、5種），提示到在線測(cè)試狀態(tài)圖上。管腳狀態(tài) 大致可分為合法狀態(tài)和非法狀態(tài)。如果出現(xiàn)非法狀態(tài)且測(cè)試失敗，一般說明有后驅(qū)動(dòng)無法隔離的電路結(jié)構(gòu)存在，測(cè)試結(jié)果基本不可信。應(yīng)設(shè)法排除非法管腳狀態(tài)后再測(cè)。不同的非法狀態(tài)排除的辦法也不同。
更多詳細(xì)解釋見http://
技術(shù)：
產(chǎn)品：
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