Leica DCM8將高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺(tái)儀器中

徠卡顯微系統(tǒng)發(fā)布用于無損三維表面輪廓形成的Leica DCM8。該儀器融合了共聚焦和干涉光學(xué)測量儀，因此具有這兩種技術(shù)的性：用于高橫向分辨率和干涉法的高清晰度共聚焦顯微鏡，可獲得亞納米級(jí)的垂直分辨率。這兩種技術(shù)對(duì)于在各種不同的研究和產(chǎn)品環(huán)境下，進(jìn)行材料和零部件的表面分析都非常重要。由帶有高坡區(qū)域的錯(cuò)綜復(fù)雜的結(jié)構(gòu)制成的表面，要求數(shù)微米的橫向分辨率。與之相反，帶有臨界微型峰和谷的拋光超平滑表面，則要求納米尺度的縱向分辨率。

Leica DCM8可以滿足用戶對(duì)比表面積測量的具體要求——共聚焦顯微鏡可使橫向分辨率高達(dá)140nm，輔之以干涉測量法，垂直分辨率可高達(dá)0.1nm。產(chǎn)品管理團(tuán)隊(duì)行業(yè)的團(tuán)隊(duì)人——Stefan Motyka說：“ Leica DCM8是一種通用的、準(zhǔn)確的測量器，可以節(jié)省時(shí)間和成本：用戶不必交換儀器，就可以利用共聚焦和干涉測量技術(shù)，觀察和測量同一樣品——他們只需要一臺(tái)儀器。另外，顯微鏡的用戶友好的設(shè)置和操作，可以省時(shí)省力，非?？焖?、方便地提供精準(zhǔn)的結(jié)果。”

為了獲得高分辨率和高速度， Leica DCM8采用了共聚焦掃描技術(shù)，無需移動(dòng)傳感頭中的部件，從而提高了可重復(fù)性和穩(wěn)定性。只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)，即可在兩種技術(shù)之間快速、簡單地切換。

瑞士溫特圖爾IMPE的Christof Scherrer說：“我們之所以決定購買 Leica DCM8系統(tǒng)，是因?yàn)樗梢杂米鞴鈱W(xué)顯微鏡，帶有明場、暗場和共聚焦以及三種干涉模式。對(duì)于像我們這樣的材料科學(xué)方面多元化的研究工作來說，靈活性是一項(xiàng)重要因素。”

除了使用不同技術(shù)用于觀察和分析之外， Leica DCM8還是一種用于樣品的精確色彩存檔的理想儀器。高品質(zhì)徠卡物鏡以及四個(gè)LED光源的多種選擇——藍(lán)色（460nm）、綠色（530nm）、紅色（630nm）和白色（中心550nm）——以及一個(gè)集成的CCD相機(jī)，提供逼真的彩色圖像。相機(jī)具有很大的視場——如果這還不夠，可以選擇XY地形拼接模式，以獲得較大面積的無縫、精確模型。直觀的軟件可以使用戶簡化復(fù)雜的3D和2D分析，完成符合具體需求的配置。

Leica DCM8是一種3D表面測量顯微鏡，將共聚焦顯微鏡和干涉測量法融合在一臺(tái)儀器中。

Leica DCM8無需交換儀器，即可同時(shí)提供共聚焦和干涉測量技術(shù)。