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由國際測量與儀器委員會、中國國家自然科學(xué)基金委員會、中國計量測試學(xué)會、中國儀器儀表學(xué)會聯(lián)合主辦，哈爾濱工業(yè)大學(xué)和國際測量與儀器委員會、全國計量儀器專業(yè)委員會承辦的第六屆國際精密工程測量與儀器學(xué)術(shù)研討會（ISPEMI 2010）于8月8日-11日在杭州成功舉辦。

本次會議共收到論文637篇，收錄論文266篇。到會代表約260人，其中境外代表約60人。中國計量測試學(xué)會常務(wù)理事、計量儀器專業(yè)委員會主任委員、會議主席兼程序委員會主席、哈爾濱工業(yè)大學(xué)超精密光電儀器工程研究所所長譚久彬教授主持會議。會議邀請德國聯(lián)邦物理研究院（PTB）首席科學(xué)家、精密工程部部長海爾德•布斯教授，澳大利亞科學(xué)院與工程院院士、澳大利亞斯威本大學(xué)副校長、著名多維光存儲技術(shù)專家顧敏教授，美國科學(xué)院院士、加州大學(xué)伯克利分校著名超分辨光學(xué)技術(shù)專家張翔教授，美國亞利桑那大學(xué)著名大型光學(xué)元件超精密加工與測量專家詹姆斯•伯格教授，日本東北大學(xué)超精密加工與測量專家高偉教授，俄羅斯科學(xué)院著名衍射光學(xué)專家亞歷山大教授，英國倫敦大學(xué)國王學(xué)院著名共焦顯微技術(shù)專家蒂姆•活森教授和國防科技大學(xué)超精密光學(xué)加工與測量技術(shù)專家李圣怡教授8位世界知名學(xué)者到會作特邀報告。

會議研討內(nèi)容涉及儀器科學(xué)理論與方法、儀器與系統(tǒng)、超精密傳感技術(shù)、先進光學(xué)加工與測量技術(shù)、微/納制造與測量技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)光學(xué)與儀器、激光測量技術(shù)與儀器和光電儀器技術(shù)等前沿方向和儀器學(xué)科領(lǐng)域重大熱點問題。會議共組織了16個分會，口頭報告 84篇，其中專題邀請報告21篇，張貼報告182篇。哈爾濱工業(yè)大學(xué)金鵬教授主持了微納米技術(shù)與測量分會，并作了“微光學(xué)元件納米壓印加工”專題邀請報告。

國際精密工程測量與儀器學(xué)術(shù)研討會是在ISIST（儀器科學(xué)與技術(shù)學(xué)術(shù)研討會）和ISPMM（國際機械工程精密測量學(xué)術(shù)研討會）兩個系列國際會議的基礎(chǔ)上，為規(guī)范會議管理和更加有力地把儀器科學(xué)與技術(shù)學(xué)科領(lǐng)域的國際學(xué)術(shù)會議水平推向新高度，在國家自然科學(xué)基金委員會、中國計量測試學(xué)會和中國儀器儀表學(xué)會建議下合并產(chǎn)生的。國際光學(xué)工程學(xué)會（SPIE）將成為本系列會議的協(xié)辦單位，論文全部收入SPIE出版的論文集，并由EI和ISTP全部收錄。