采用通過樣品內(nèi)和樣品外的相干光束產(chǎn)生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉(zhuǎn)換為振幅（光強(qiáng)度）變化的顯微鏡，根據(jù)干涉圖形可分辨出樣品中的結(jié)構(gòu)，并可測定樣品中一定區(qū)域內(nèi)的相位差或光程差。由于分開光束的方法不同，有不同類型的干涉顯微鏡，以及用于測定非均勻樣品的積分顯微鏡干涉儀。干涉顯微鏡主要用于測定活的或未固定的相互分散的細(xì)胞或組織的厚度或折射率。干涉顯微鏡簡介干涉顯微鏡分為雙光束和多光束兩類，采用通過樣品內(nèi)和樣品外的相干光束產(chǎn)生干涉的方法，把相位差(或光程差)轉(zhuǎn)換為振幅（光強(qiáng)度）變化的顯微鏡，根據(jù)干涉圖形可分辨出樣品中的結(jié)構(gòu)，并可測定樣品中一定區(qū)域內(nèi)的相位差或光程差，通常測定工件加工光潔度及高度差約為詳情>>
干涉顯微鏡價(jià)格
